科技日報訊 (記者趙漢斌)8月13日，記者從(cong) 中國科學院雲(yun) 南天文台獲悉，該台高級工程師張雪飛等人利用麗(li) 江觀測站100毫米日冕儀(yi) ，研究了鏡麵塵埃引起的雜散光對日冕像的影響及其修正方法。該研究有助於(yu) 更精確地分析日冕強度、結構變化趨勢，也將助力我國未來大口徑日冕儀(yi) 的研發。相關(guan) 研究成果發表於(yu) 《光子學報》。

　　日冕是太陽大氣的最外層。在可見光波段，日冕的亮度隻有太陽光球的百萬(wan) 分之一，因此在一般情況下它都難以被觀測到。隻有在日全食期間，太陽光球被月球完全遮擋時，人們(men) 才能短暫地看到日冕。

　　但一種特殊的天文儀(yi) 器——日冕儀(yi) ，讓人們(men) 得以在太陽落山前隨時觀測日冕。日冕儀(yi) 可通過遮擋盤製造人造日食。但由於(yu) 日冕亮度極低，任何來自它之外的雜散光都會(hui) 極大影響觀測效果。受這些光的影響，不同時間觀測到的日冕圖像中會(hui) 有不同程度的散射背景，它們(men) 會(hui) 影響日冕數據質量，給暗弱日冕結構的分析以及日冕圖像強度定標等工作帶來極大不便。研究人員希望找到日冕儀(yi) 鏡麵塵埃與(yu) 其形成的散射背景之間的定量關(guan) 係，並將散射背景從(cong) 日冕圖像中去除。

　　張雪飛等人利用該台麗(li) 江觀測站100毫米日冕儀(yi) 實測，分別得到了物鏡表麵塵埃擦除前後的日冕圖像與(yu) 物鏡圖像，隨後他們(men) 將兩(liang) 日冕像做差，得到塵埃散射背景。數據表明，散射背景強度沿徑向線性衰減；同時，通過提取物鏡圖像上塵埃散射點總強度，得到塵埃信息。他們(men) 發現，塵埃散射點總強度與(yu) 散射背景線性衰減係數有較強相關(guan) 性，並由此擬合出散射背景與(yu) 塵埃之間的定量關(guan) 係，對日冕圖像進行修正，首次得到了不含塵埃散射雜散光的日冕圖像，提高了數據質量。

　　該研究成果對內(nei) 掩式日冕儀(yi) 廣泛適用，可為(wei) 其他地基日冕儀(yi) 圖像高精度定標提供重要參考，並將助力更加精確地分析日冕結構和日冕強度衰減趨勢，為(wei) 未來日冕儀(yi) 對日冕磁場常規測量提供更可靠的觀測數據。此外，該研究積累的技術也將加深研究人員對日冕儀(yi) 內(nei) 部其他雜散光源特性的理解，助力日冕儀(yi) 雜散光抑製技術取得新突破。